DCT2000半導體分立器件靜態參數測試系統能測試很多電子元器件的靜態直流參數（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內阻Rds(on)）。

測試種類覆蓋 7 大類別26分類，包括“二極管類”“三極管類（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保護類器件”“穩壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監測類”等品類的繁多的電子元器件。

高壓源標配1400V（選配2KV），高流源標配100A（選配40A,200A,500A）

控制極/柵極電壓40V，柵極電流100mA

分辨率最高至1.5uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%

DCT2000半導體分立器件靜態參數測試系統能夠測試分立器件靜態參數還可測試“結電容”，支持“脈沖式一鍵加熱”和“分選機連接”